蔡司Xradia Ultra系列

纳米级X射线成像——开启科学探索之门

同步辐射X射线纳米CT能够实现纳米级的无损三维成像，但您只能申请非常有限的线站机时。如果不用等待同步辐射的时间呢？想象一下，如果您在自己的实验室里就能进行同步辐射实验该有多好。有了蔡司Xradia Ultra系列产品，就意味着您拥有了一台可以提供同步辐射纳米级图像分辨率的高质量三维无损X射线显微镜（XRM）。该系列有蔡司Xradia 810 Ultra和蔡司Xradia 800 Ultra两种型号供您选择，它们都是为您在常用的应用中获得出色图像质量而定制的。您要求极高的研究值得拥有出色的图像质量和可靠的系统来加以辅助。Xradia Ultra采用来源于同步辐射的先进X射线光学技术，将其应用到实验室设备中。因此，您可以在实验室中按照您既定的计划完成同步辐射水平的纳米CT。使用纳米级三维X射线成像，加快您在材料研究、生命科学、自然资源和工业应用领域的研究进展。

优势：

在样品的自然状态下对其进行无损成像。可采用关联工作流程，为后续的其他研究保存样品，或进行特别的原位三维实验。

利用空间分辨率可达50nm、体素尺寸低至16nm的真正的纳米级三维X射线成像，您可以获得更多信息，识别更微小的细节特征。

用三维和四维的原位实验研究微观结构的演变。

全面表征样品：对测量的纳米结构进行量化，并将所得数据用于建模输入。

还可同时研究软硬材料等各种不同的样品类型，并通过吸收和Zernike相位衬度提高图像质量。

在进行同步辐射实验之前预先筛选样品，充分利用申请到的机时。

产品亮点

用无损纳米级成像为您的研究增光添彩

利用上乘的无损成像，在自然状态下以三维方式观察纳米级现象。

这是一款填补亚微米级图像分辨率XRM（如蔡司Xradia Versa）和分辨率更高但具有破坏性的三维成像系统（如FIB-SEM）之间空白的仪器。

使用集成的原位解决方案，在您的实验室就能进行图像分辨率高达50 nm、体素尺寸低至16 nm的先进的无损三维/四维X射线成像。

将这些特殊的功能添加到您的分析组合中，加速您的研究。

蔡司Xradia Ultra光学元件来源于同步辐射技术，让您在自己的实验室中就能实现纳米级成像和出色的衬度。

实现出色的衬度和图像质量

在不破坏您的样品情况下，切片不会有伪影的影响，以三维方式观察缺陷。

利用吸收和Zernike相位衬度，以出色的衬度和图像质量显示细节。将两种模式的数据结合起来，能够显示出单一衬度无法实现的特征。

Xradia 810 Ultra和Xradia 800 Ultra都能为您*常用的应用提供出色的图像质量。如何选择型号，取决于您希望获得的衬度、通量和不同透过率的材料类型。

使用Xradia Ultra，可获得具有同步辐射效果的纳米级X射线成像。

松针的二维重建切片  Zernike相位衬度（ZPC）模式  吸收衬度

拓展您实验室的界限

同步辐射品质的成像效果让您的研究水平更上一层楼。消除同步辐射装置上的准入障碍， 在自己的实验室中就能按计划获得相似的纳米级成像效果。

进行以前在基于实验室的成像中不可能实现的四维和原位研究。

进行原位力学、热、电化学和环境测试。

使用关联工作流并连接到其他成像分析方法（如蔡司Xradia Versa、蔡司Crossbeam、分析）。通过包括专用的Python API在内的简化用户界面，为广大成像装置用户提供服务。

在进行原位压缩实验前用Zernike相位衬度成像的三维打印纳米晶格结构。样品由德国卡尔斯鲁厄理工学院的R. Schweiger提供。

技术

在一个特殊的装置中使用X射线解析纳米级的特征

对于旨在用三维无损和纳米级图像分辨率来全面表征样品的显微技术人员来说，他们需要能够提供以下功能的光学元件：

* 纳米级图像分辨率的三维断层成像数据集

* 出色的图像质量

* 聚焦效率

* 在有限的实验时间内获得优良的信号

* 在低吸收样品中也能显示出特征

过去，要制造出坚固且高效的X射线光学元件非常困难，这阻碍了可实现高分辨率成像的X射线显微镜的发展。蔡司Xradia Ultra采用了来源于同步辐射研究的先进光学元件，使您能够充分利用X射线的非破坏性，在实验室中完成纳米级的三维成像。

通过使用以下元件，您可尽享来源于同步辐射的架构的优点：

反射毛细管聚光镜，可在*大通量密度下匹配光源特性和图像

菲涅尔波带片物镜，获得专利的纳米加工技术为您的研究提供出色的图像分辨率和聚焦效率

用于Zernike相位衬度的相位环，可显示低吸收样品的细节

基于闪烁体的高衬度、高效探测器，与CCD探测器光学耦合，在有限的实验时间内为您提供优良的信号

随着样品的旋转，可以收集到各种投影角度的图像并将其重建为三维断层数据集